| Dienstleistung | ||
| Wir bieten für interessierte
Unternehmen und Behörden Analysenmessungen mit ESCA (XPS, UPS oder ISS)
an.
Durch den Forschungsschwerpunkt des Arbeitskreises bieten sich Untersuchungen z.B. im Bereich der Korrosion der Metalle, Korrosion an Kunststoffen o.ä. an. Elektrochemische Präparation unter inerten Bedingungen (Argon-Schutzgasatmosphäre) und anschließende Analyse mit ESCA sind ohne weiteres möglich. Bei Interesse oder Fragen wenden sie sich bitte per E-Mail an Frau Keller oder per Fax an +49 (0)211 81-14842. |
Durch XPS-Analytik ist es möglich den
Schichtaufbau (qualitative und quantitative Analyse und den Bindungszustand
z.B. den Oxidationsgrad) und die Schichtdicke zu bestimmen.
Durch Sputtertiefenprofilierung kann bei Beschuß mit ionisiertem Edelgas (Argon) der Analysenbereich bis zu einigen 100 nm, durch schichtweises Abtragen der Oberfläche, ausgedehnt werden. Da hierbei die Oberfläche zerstört wird, kann alternativ auch AR-XPS (angel-resolved XPS, winkelabhängige XPS) eingesetzt werden. AR-XPS zerstört die Oberflache nicht, hat aber einen im Vergleich mit der Tiefenprofilierung eingeschränkten Analysenbereich. |
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